MEMS 探針卡如何透過精密微型結構設計，來克服高頻率測試中的訊號衰減與失真問題，以提升測試準確性？

Question

MEMS探針卡在高頻測試中克服訊號衰減與失真的方法

Accepted Answer

微機電系統（MEMS）探針卡透過精密的微型結構設計，有效解決高頻測試中訊號衰減和失真的問題，進而提高測試的準確性。這項技術特別適用於高密度和高溫環境，成為先進晶片測試的關鍵。